X射線熒光光譜儀及工作原理
在X射線熒光光譜(XRF)技術中，原子的激發是用一個輻射源射出的X 射線轟擊被分析樣品——如油樣——而實現的。油液中被分析元素原子的外層電子獲得能量從各個能級上被逐出。原子以電子處于激發態的離子形式存在。當外層電子進入被逐出電子留下的內層空穴時，釋放出攜帶極大能量的光子，離子返回到基態。與上述原子吸收或原子發射光譜技術所不同的是，由于使用 了能量更大的X射線激發原子，外層電子是以比可見光頻率更高(即能量更大) 的熒光形式釋放能量(即輻射出X射線)，形成了熒光波段的光譜。每個元素均具有各自的特征電子排布，受激后輻射出的二次X射線光譜也具有元素特征性， 譜線強度與油樣中元素的濃度成正比。從而借助于檢測器檢測熒光光譜的信息，便可得到油液中所含元素的種類和濃度。X熒光光譜儀的外形見圖1.1;其工作原理及其分析系統的主要構成如圖1.2所示。
X射線熒光光譜儀具有上述可見光譜波段光譜儀所不具備的優點，即可以探測分析較大的磨粒。這十分適用于基于油液監測的機械設備狀態監測應用領域。 近幾年，這項光譜技術已逐漸被擴大應用，很具前景。不足的是分析成本較高，它的優缺點詳見表1.3。
圖1.1 X熒光光譜儀外形
圖1.2 X射線熒光光譜的工作原理及其分析系統的主要構成
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